麦奇克新型Millitrac颗粒图像分析仪
技术参数:测量范围:90 - 13,200µm测量技术:单色CCD图像分析技术重复性:误差≤1.5%,分析精度:30通道扫描速度:60循环/10秒测量时间:1-9,999秒,用户可选直接干粉进样分析,样品可回收实时图像处理,操作直观方便报告形式:体积/数量粒度分布
专家级测量系统(共聚焦原理)
主要用途◆ 任何粗糙、光滑表面检查和测量(可选用不同的传感器)◆ 用于金属片、纸、玻璃塑胶、晶片、刀具等行业◆ 其他表面的微观形貌测量◆ 微型机械元件的尺寸测量◆ 金相测量◆ 微小或较大区域内直线度、平面度、台阶高度、粗糙度的测量计算
比表面分析仪
F-Sorb 2400比表面分析仪是目前国内同类产品中唯一完全自动化,智能化的比表面测量仪器,由金埃谱科技与兵器系统合作研发,秉承兵器行业高标准、严要求的技术宗旨,依据国际经典比表面分析理论和原理,采用国内外通用比表面分析方法,符合国际比表面分析标准,完全实现制造集成化,功能模块化,操作自动化和智能化;显著提高产品可靠性,测试结果准确性,大大节省测试人员工作量
柯尼卡美能达konicaminoltaT-10WLA数字照度计
柯尼卡美能达konicaminoltaT-10WLA数字照度计产品介绍:标准测量探头/小测量探头/防水测量探头小测量探头和测量线经防水处理,可以在水中进行照度测量。可用于简单、低成本的多点测量。使用微型探头型号,即使在狭小空间里也可进行照度测量。T-10A/T-10MA符合JIS
Discovery氙灯导热仪
Discovery氙灯导热仪(DXF)使用高速氙灯脉冲发射源(HSXD)。与激光导热仪相比,其价格更低、所需的维护更少,但能得到相同的测试效果。反射式光学系统充分利用了氙灯闪光管的功率,并将其传输到样品上。
tt220数字式涂层测厚仪
TT220采用了磁性测厚法,是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精颏地进行铁 磁性金属基体上的覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、